Microstructural features of roasted coffee beans investigated by synchrotron x-ray microtomography / PITTIA P.; SACCHETTI G; MANCINI L.; VOLTOLINI M.; TROMBA G.; ZANINI F.. - (2010), p. PO0833. ((Intervento presentato al convegno IUFOST 15th World Congress Of Food Science And Technology tenutosi a Cape Town (SouthAfrica) nel 22-26/08/2010.
Titolo: | Microstructural features of roasted coffee beans investigated by synchrotron x-ray microtomography |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2010 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11575/7562 |
Appare nelle tipologie: | 4.3 Poster |
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