Use of Synchrotron X-Ray Microtomography to investigate Microstructural Properties Of Coffee Beans as affected by water state.
PITTIA, Paola;SACCHETTI, Giampiero;
2010-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.