CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishMicrostructural features of roasted coffee beans investigated by synchrotron X-ray microtomography, / Pittia P; Sacchetti G; Mancini L; Voltolini M; Tromba G; Zanini F.. - STAMPA. - (2010), pp. 83-83. ((Intervento presentato al convegno IUFOST 15th World Congress of Food Science & Technology. tenutosi a Cape Town, nel 22-26 August 2010.
| Titolo: | Microstructural features of roasted coffee beans investigated by synchrotron X-ray microtomography, |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2010 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11575/12540 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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